武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、窄脉冲电流源、集成插卡式源表等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。详询一八一四零六六三四七六
产品特点
5寸800*480触摸显示屏，全图形化操作
内置强大的功能软件，加速用户完成测试，如LIV、PIV
源及测量的准确度为0.03%
四象限工作（源和肼），源及测量范围：高至300V，低至3pA
丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描
支持USB存储，一键导出测试报告
支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网
技术参数
源限度-电压源：±10V（≤3A量程），±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
源限度-电流源：±3A（≤10V量程），±1A（≤30V量程），±100mA（≤300V量程）；
过量程： 105%量程，源和测量；
稳定负载电容：<22nF；
宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；
线缆保护电压：输出阻抗30KΩ，输出电压偏移<80mV；
蕞大采样速率：S系列1000 S/s，SXXB系列32000S/s;
触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；
输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC 100~240V 50/60Hz；
工作环境：25±10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm宽 ×425mm长；
重量：5KG
质保期：1年
S系列源表应用
分立器件特性测试：电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SiC、GaN等器件；
能量与效率特性测试：LED/AMOLED、太阳能、电池、DC/DC转换器；
传感器特性测试：电阻率、霍尔效应等；
有机材料特性测试：电子墨水、印刷电子技术等；
纳米材料特性测试：石墨烯、纳米线等；
激光器特性测试：窄脉冲LIV测试系统；
功率器件：静态测试系统；
电流传感器：动静态参数测试系统；
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网站：http://www.whpssins.com
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